根據(jù)分類(lèi)的方法不同,探針都有哪些?
文章出處:常見(jiàn)問(wèn)題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2024-03-15 00:00:00
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探針都有哪些呢,根據(jù)分類(lèi)的方法不同,叫法也不一樣。
一、探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為三類(lèi):
A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只檢測(cè)開(kāi)路、短路探針;
B、在線測(cè)試探針:
PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;
C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片
IC檢測(cè)探針。
二、探針主要類(lèi)型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type),而垂直型探針又可劃分為以下十類(lèi):
1.ICT探針(ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-0.61mm之間,業(yè)內(nèi)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,39mil,還有直徑只有0.19mm,主要用于在線電路(ICT測(cè)試)和功能(FCT測(cè)試)測(cè)試.
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開(kāi)關(guān)探針(Switch Probes)開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng),一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針(Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針(Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).
10.汽車(chē)線束測(cè)試測(cè)試探針
專(zhuān)業(yè)用于汽車(chē)線束通斷檢測(cè),直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A
深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車(chē)床車(chē)削成形,經(jīng)過(guò)精密的鍍層、硬度、壽命測(cè)試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當(dāng)。同時(shí)還提供德國(guó)INGUN、美國(guó)QA、臺(tái)灣CCP等名牌探針。